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磁粉探傷儀CDX-III


産品概述:
磁粉检测技术是最常用的無損檢測方法之一,它主要检测铁磁性材料表面和近表面的缺陷。表面缺陷的危害性比内部缺陷危险性更大,因此,表面缺陷的检测刻不容缓。
磁粉檢測發現的缺陷都是微米級的缺陷,磁粉照明裝置顯得尤爲重要,我公司在原有儀器的基礎上,對以往産品的照明部分做了很大的改進,采用了高亮度LED照明裝置,亮度強,不易爆破,讓缺陷無處可逃。
産品特點:
靈敏度高,國家A1型試片能全部清晰顯示。(如照片所示)
磁粉遊動性好,易于吸附在缺陷表面。
采用高亮度LED照明,避免了以往缺陷漏檢現象。
采用高亮度LED照明後,光源不會因磁懸液的飛濺而爆破。
攜帶方便,方便高空、野外作業。
探傷後不需要退磁。
技術參數
提升力:交流磁轭≥10Kg,帶活關節時≥7Kg,旋轉磁場≥10Kg(被探工件表面與探頭端面氣隙≤1.5mm)。
探頭極距:交流磁轭(D型)探頭,固定式爲155mm,帶活關節時50∽200mm可調,旋轉磁場(E型)兩相鄰探頭鐵芯中心距爲125mm,磁鉗型(A型)探頭0∽170mm,環型(O型)探頭Φ90mm,約2000AT。
探头工作电压:均为38V 。
靈敏度:磁轭,旋轉磁場,磁鉗型和環型探傷時均可清晰顯示30/100A型標准試片上的人工刻槽。